| 发明名称 |
DEVICE FOR MEASURING QUANTITY OF UNEVEN SUBSIDENCE OF STRUCTURE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5235664(A) |
申请公布日期 |
1977.03.18 |
| 申请号 |
JP19750111410 |
申请日期 |
1975.09.12 |
| 申请人 |
MITSUTOYO SEISAKUSHIYO KK |
发明人 |
SHIRUSHIMAKI TOKUJI |
| 分类号 |
G01F23/00;B65D90/48;E04H7/00;G01C5/04;G01C9/00 |
主分类号 |
G01F23/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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