SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,申请号JP19760007605-传众专利搜索

发明名称	SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号	JPS5291361(A)	申请公布日期	1977.08.01
申请号	JP19760007605	申请日期	1976.01.27
申请人	NIPPON ELECTRON OPTICS LAB	发明人	TAMURA NOBUAKI
分类号	H01J37/244;H01J37/28	主分类号	H01J37/244
代理机构		代理人
主权项
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