发明名称 INSPECTING METHOD OF FILM DEFECTS
摘要
申请公布号 JPS5376881(A) 申请公布日期 1978.07.07
申请号 JP19760151899 申请日期 1976.12.20
申请人 FUJITSU LTD 发明人 TANAKA AKIRA;YAMAGUCHI YUKIAKI;KODAMA MICHIKO
分类号 G01N33/20;G01N33/00 主分类号 G01N33/20
代理机构 代理人
主权项
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