发明名称 |
一种影像测量仪校正方法 |
摘要 |
本发明涉及一种影像测量仪校正方法,该方法包括以下步骤:1)投影装置向工作平台投射一个投影图案;2)移动影像测量仪的测量测头,将投影图案置于影像测量仪的视窗之中,采集投影图案,并将其传送到上位计算机中;3)上位计算机对接收到的投影图像进行处理,提取需要检测的尺寸信息;4)改变投影装置的投影图案,重复步骤2)‑3);5)重复执行步骤4)一次以上,将多次处理所得的图像信息叠加,修正校正图像自身的制造误差,然后求出相交点的中心位置,通过相交点位置信息,得出相关尺寸参数,将多次校正所得数据通过算法平均,校正影像测量仪。与现有技术相比,本发明具有校正精度高、不需要校正片等优点。 |
申请公布号 |
CN104034259B |
申请公布日期 |
2016.11.02 |
申请号 |
CN201410216671.1 |
申请日期 |
2014.05.21 |
申请人 |
同济大学 |
发明人 |
周爱国;潘强标 |
分类号 |
G01B11/00(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海科盛知识产权代理有限公司 31225 |
代理人 |
赵继明 |
主权项 |
一种影像测量仪校正方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)投影装置向工作平台投射一个投影图案;2)移动影像测量仪的测量测头,将投影图案置于影像测量仪的视窗之中,采集投影图案,并将其传送到上位计算机中;3)上位计算机对接收到的投影图像进行处理,提取需要检测的尺寸信息;4)改变投影装置的投影图案,重复步骤2)‑3);5)重复执行步骤4)一次以上,将多次处理所得的图像信息叠加,修正校正图像自身的制造误差,然后求出相交点的中心位置,通过相交点位置信息,得出相关尺寸参数,将多次采得的数据通过算法平均,校正影像测量仪;该方法进行校正时,将投影图像投射到被校正影像测量仪的工作台面上的4个不同方向,其中包括影像仪的2个轴线方向和2个对角线方向,在每个不同的方向或位置对投影图像进行至少两次测量。 |
地址 |
200092 上海市杨浦区四平路1239号 |