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发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR FUNCTIONAL TESTING DIRECT ACCESS READ IN/OUT STATIC SEMICONDUCTOR MEMORIES /RAM/
摘要
申请公布号 HU179854(B) 申请公布日期 1982.12.28
申请号 HU19800001007 申请日期 1980.04.23
申请人 EGYESUELT IZZOLAMPA ES VILLAMOSSAGI RT,HU 发明人 GASPAR,J.,ZOLTAN,HU;SZAKACS,BENOE,HU;JUHASZ,LASZLO,HU
分类号 G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/56
代理机构 代理人
主权项
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