| 主权项 |
1.对于一对五成正交关系之分向量之向量和产生其强度値之一种机具,其构成包含:接收上述成对之互成正交关系之分向量之强度値之装置,将上述二向量以B为底产生一对相关之对数値之装置。将上述对数値之一从另一上述对数値减去,以形成一差値D之装置。产生一等于0.5LogB(1+B)-2D)之校正値之装置。将上述校正値加进上述另一对数値之装置;以及产生上述加法装置输出値之反对数之装置,以产生一値C,此値C实质上等于上述五成正交关系之分向量之向量和。2.根据上述请求专利部份第1.项所界定之机具,其中上述减法装置乃由下列各装置所组成:决定上述一对数値之「2」之补数値之装置。将上述一对数値之「2」之补数値与上述另一对数値作相加结合以求保该差値D之装置。3.根据上述请求专利部份第1.项所界定之机具,其中上述校正値产生装置乃由一仅读记忆装置所组成,一差値D作为位址码加于装置,且此记忆装置系经规划在相应之记忆位置容纳相关之F(D)値。4.对于一对互成正交关系之分向量之向量和产生其强度値之机具,其构成包含:接收上述成对之互成正交关系之分向量之强度値之装置。将上述二向量以B为底产生一对相应之对数値之装置。计算上述一对对数値间之差之绝对値│D│之装置。产生一等于0.5L0gB(1+B-2D)之校正値F(│D│)之装置。将上述校正値加至上述两对数値中之较大値之装置。以及对上述加法装置输出値产生其反对数之装置,以产生値C,此项实质上等于上述互成正交关系之分向量之向量和之大小。5.根据上述请求专利部第4.项所界定之机具,其中上述计算上述两对数値间之差绝对値│D│之装置包含自上述两对数値中较大値减去上述两对数値中之较小値之装置。6.根据上述请求专利部份第4.项所界定之机具,其中计算上述两对数値间之差之装置包含:决定上述两对数値较大値与较小値之装置;以及目上述两对数値中之较大値减去上述两对数値申之较小値之另一种装置。7.根据上述请求专利部份第6.项所界定之机具,其中上述减法装置乃由下列装置所组成:决定上述较小对数値之「2」之补数値之装置。将上述较小对数値之「2」之补数値与上述较大对数値使相加结合,以求得上述两对数値间之差之绝对値。8.根据上述请求专利部份第7.项所界定之机具,其中「2」之补数値决定装置包含:将上述较小对数値之数元反转之装置。将+1 加进上述较小对数値之反转値之最低有效数元位置,以产生上述「2」之补数値之装置。9.根据上述请求专利部份第6.项之机具,其中在上述较大及较小对数値决定装置之输出出现之上述较大对数値系特别加至上述加法装置中。10.根据上述请求专利部份第9.项所界定之机具,其中上述较大及较小对数値决定装置之上述输出处之上述较大对数値系经由一延迟元件通过上述加法装置,以确保上述加法装置实质上同时接收上述较大对数値及相关之校正値。11.根据上述请求专利部份第1.或4.项所界定之机具,其中上述对数値产生装置包含一仅读记忆装置,上述两向量之振幅値系作为位址代码加于此记忆装置,且此记忆装置系经规划以在各别之记忆位址容纳相关之对数値。12.根据上述请求专利部份第4.项所界定之机具,其中上述校正値产生装置乃由一仅读记忆装置所组成,有一绝对差値│D│作为位址代码加于此记忆装置,且此记忆装置系经规划以在相应记忆位址容纳相关之校正値F(│D│13.根据上述请求专利部份第1.或4.项所界定之机具,其中上述反对数产生装置包含一仅读记忆装置,上述加法装置之输出系作为位址代码加于此记忆装置,且此记忆装置系经规划以在各别之记忆位址容纳相关之反对数値。 |
