发明名称 Photoresist compositions with enhanced sensitivity using polyamide esters.
摘要 Fotoresist-Formulierungen zur Ausbildung von Reliefstrukturen aus hochwärmebeständigen Polyimid-Polymeren, enthaltend in einem organischen Lösungsmittel im wesentlichen mindestens je a) ein fotopolymerisierbare Reste tragendes Polyamidester-Präpolymer b) eine strahlungsreaktive copolymerisierbare ungesättigte Verbindung c) einen Fotosensibilisator d) einen Fotoinitiator e) einen Leucofarbstoff, zeigen eine gesteigerte Lichtempfindlichkeit, wenn in ihnen als Fotoinitiator eine Verbindung vom Typ der N-Azidosulfonylarylmaleinimide und als Leucofarbstoff eine Verbindung von Typ der Triarylmethane enthalten ist.
申请公布号 EP0188205(A2) 申请公布日期 1986.07.23
申请号 EP19860100099 申请日期 1986.01.07
申请人 MERCK PATENT GESELLSCHAFT MIT BESCHRANKTER HAFTUNG 发明人 MERREM, HANS-JOACHIM, DR.;KLUG, RUDOLF, DR.;HEROLD, THOMAS, DR.
分类号 C08L7/00;C08F2/50;C08G73/00;C08G73/10;C08L21/00;C08L67/00;C08L77/00;G03C1/00;G03F7/004;G03F7/008;G03F7/027;G03F7/028;G03F7/037;G03F7/038;G03F7/105;H01L21/027;H05K3/06;(IPC1-7):G03C1/68;G03F7/10 主分类号 C08L7/00
代理机构 代理人
主权项
地址