发明名称 |
Photoresist compositions with enhanced sensitivity using polyamide esters. |
摘要 |
Fotoresist-Formulierungen zur Ausbildung von Reliefstrukturen aus hochwärmebeständigen Polyimid-Polymeren, enthaltend in einem organischen Lösungsmittel im wesentlichen mindestens je a) ein fotopolymerisierbare Reste tragendes Polyamidester-Präpolymer b) eine strahlungsreaktive copolymerisierbare ungesättigte Verbindung c) einen Fotosensibilisator d) einen Fotoinitiator e) einen Leucofarbstoff, zeigen eine gesteigerte Lichtempfindlichkeit, wenn in ihnen als Fotoinitiator eine Verbindung vom Typ der N-Azidosulfonylarylmaleinimide und als Leucofarbstoff eine Verbindung von Typ der Triarylmethane enthalten ist.
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申请公布号 |
EP0188205(A2) |
申请公布日期 |
1986.07.23 |
申请号 |
EP19860100099 |
申请日期 |
1986.01.07 |
申请人 |
MERCK PATENT GESELLSCHAFT MIT BESCHRANKTER HAFTUNG |
发明人 |
MERREM, HANS-JOACHIM, DR.;KLUG, RUDOLF, DR.;HEROLD, THOMAS, DR. |
分类号 |
C08L7/00;C08F2/50;C08G73/00;C08G73/10;C08L21/00;C08L67/00;C08L77/00;G03C1/00;G03F7/004;G03F7/008;G03F7/027;G03F7/028;G03F7/037;G03F7/038;G03F7/105;H01L21/027;H05K3/06;(IPC1-7):G03C1/68;G03F7/10 |
主分类号 |
C08L7/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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