| 发明名称 |
BUILT-IN INSPECTION CIRCUIT FOR COMBINATIONAL LOGIC |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS62162982(A) |
申请公布日期 |
1987.07.18 |
| 申请号 |
JP19860301136 |
申请日期 |
1986.12.16 |
| 申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICDS INC |
发明人 |
ROBAATO EMU PAARUMAN;ARAN JII KORII |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/267 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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