发明名称 测量彩色显示幕色彩纯度之方法及有关装置
摘要
申请公布号 TW111670 申请公布日期 1989.04.11
申请号 TW077102195 申请日期 1988.04.05
申请人 日立制作所股份有限公司 发明人 望月淳;浅野敏郎
分类号 G01J3/00 主分类号 G01J3/00
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1.一种测量彩色显示幕的色彩纯度的方法,包含下列步骤:施加磁场至一彩色映像管上以迫使一电子束沿一直线移动;藉使用摄影机拍下照片而获得磷光质的影像,藉此求得该磷光质的构形;求得所述电子束在正及负方向激励状态下的中心位置;并求得所述电子束在无激励状态下的中心位置作为所述中心位置的中间分离点。2.一种藉储存由摄影而得之磷光质影像作为等级资料并处理该影像以测量受电子束照射之所述磷光质的状态的测量彩色显示幕色彩纯度的方法,此方法包含下述步骤:将正及负方向的磁场施加至一彩色映像管以迫使一电子束沿一直线移动后,藉摄影机拍下该磷光质的相片;藉将一相等之椭圆形代入所抽取的该磷光质及电子束的轮廓中,而探测该磷光质及电子束的边缘;由各边缘估算该磷光质及电子束的中心位置及构形:并求得于正及负方向外部磁场施加在该电子束上时该电子束的中心位置及构形,及求得未受激励时该电子束的中心位置相对该磷光质的中心位置作为由该电子束之中心位置的距离内除正负向磁场强度之绝对値比例所获得之点,以求得受该电子束照射之磷光质的状态。3.依据申请专利范围第2项之测量方法,其中根据该探测得的边缘而以一相等圆形代入该磷光质及电子束的轮廓中,并估算该磷光质及电子束的中心位置及构形。4.一种测量彩色显示幕色彩纯度的方法,包含下列步骤:在施加一单向磁场至一彩色映像管的情形下,抽取由摄影机所得之磷光质相片中磷光质的影像轮廓,并储存在一影像记忆中;用所获得的轮廓点近似出一椭圆形;在施加与上述反向之磁场至该彩色映像管的信形下,抽取由摄影机所得之磷光质相片中磷光质的影像轮廓,并储存在一影像记忆中;用所获得的轮廓点近似出一个椭圆形;使用在两方向激励下获得之两近似出的椭圆形的短轴顶点来估算该磷光质的圆形及该电子束的圆形;并由该磷光质的中心来求出该电子束中心的偏差。5.依据申请专利范围第4项之测量方法,其中在测量该磷光质时,许多磷光质的位置在该摄影机的视范围中在无激励下由所述磷光质的影像中探测出来;由该许多磷光质的探测到之位置来求得电子束的偏差;并平均所获得的资料以测量色彩纯度。6.一种用以测量一彩色显示幕之色彩纯度的装置,包含:一彩色映像管,其为测量之主体;用来施加外部磁场至该彩色映像管,以迫使一电子束线移动的机构;用以取得显示在该彩色映像管上的影像的摄影机构;及影像处理机构,用以从由上述摄影机构所获得的磷光质之影像中求得该磷光质的构形,求得所述电子束在施加外部磁场情形下的电子束之位置,及求得该电子束对该磷光质的偏差。图示简单说明:图1(a)与1(f)说明根据本发明之测量彩色显示幕色彩纯度的方法之一实施例的步骤;图2示出根据本发明之测量彩色显示幕画面品质的装置之一实施例的构造;图3示出使用于图2装置中的测量头部份的结构;图4为图3所示测量头部份的放大剖面图;图5示出图3之测量头部分的线圈之电气连接;图6为线圈电流关闭时所得的反应波形;图7为图2所示装置之处理操作步骤的流程图;而图8示出在一影像记忆上的座标定义。
地址 日本