| 主权项 |
1﹒一种用以决定反射表面短程和长程波动之方法,包括:光幅射以一相对于上述表面平面之角度,衡射在上述表面上,其上述光幅射在撞击上述反射表面时,形状为一直线;侦测由反射之光幅射形成之影像;将上述影像数位化以产生数据点;储存上述数据点;和以数学方式处理上述数据点,算出上述短程和长程波动。2﹒如申请专利范围第1项所请之方法,其中上述光幅射是出雷射产生。3﹒如申请专利范围第1项所请之方法,其中上述光幅射,以约30到约35之角度撞击上述表面。4﹒一种用以数量化决定反射光滑表面长程度波动之方法,包括:线状雷射幅射衡射表面以产生由上述表面反射而得之不连续影像;以摄影机侦测上述反射之影像;将上述测得之反射影像数位化,产生数据点;储存上述数据点到一电脑储存磁带中;和先为每一上述反射影像产生一简化线,用多项式以数学方法配合每一上述简化线以产生一理想之线配合,计鼻每一上述简化线和上述相对应理想线间之标准差,及根据每一上述标准差计算一平均标准差,以测定上述长程波动。5﹒一种用以数量化决定反射光滑表面短程波动和长程度波动之方法,包括:线状雷射幅射衡射表面以产生由上述表面反射而得之不连续影像;以摄影机侦测上述反射之影像;将上述测得之反射影像数位化,产生数据点;储存上述数据点到一电脑储存磁带中;和首先计算每一反射影像之平均宽度,再依据上述每一平均宽度计算总平均,以测定上述短程波动;和先为每一上述反射影像产生一简化线,用多项式以数学方法配合每一上述简化线以产生一理想之线配合,计算每一上述简化线和上述相对应理想线间之标准差,及根据每一上述标准差计算一平均标准差,以测定上述长程波动。6﹒如申请专利范围第5项所请之方法,其中上述雷射幅射之线,以约60到约5之角度,衡射上述表面。7﹒如申请专利范围第5项所请之方法,其中上述雷射幅射之线,以约35 到30之角度图示简单说明:图1为一入寇雷射产生光源之测定装置。图2为一代表性之影像,是由衡冲光线在物体光滑表面上而产生。图3为图2之影像,经由电脑数位化后之图示。图4为一简化线,此线相关于图3之数位化线。图5为三条相邻之简化线。图6a到6f为自不同表面产生之真实简化和理想线。,衡射上述表面。 |
