| 摘要 |
Système destiné à échantillonner optiquement et à mesurer électroniquement l'intensité spectrale, ainsi que l'intensité intégrée et les caractéristiques temporaires d'une source (12) de lumière pulsée de manière répétitive ou intermittente, à envoyer de la lumière sur un réseau de diffraction (14) et à faire réfléchir la lumière par ledit réseau, afin d'illuminer l'ensemble de photodétecteurs de mesure (16). Ledit système de réglage et de mesure électronique peut être utilisé pour afficher les données relatives aux caractéristiques de la source lumineuse et pour assurer une synchronisation correcte entre la source et un second système tel qu'un spectroradiomètre. |
