| 发明名称 |
METHOD OF AND SYSTEM FOR MEASURING ELECTRIC POTENTIAL OF A METAL STRUCTURE IN AN ELECTROLYTIC ENVIRONMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL162500(B1) |
申请公布日期 |
1993.12.31 |
| 申请号 |
PL19900283853 |
申请日期 |
1990.02.16 |
| 申请人 |
OS BAD ROZWOJOWY CT TECHNIKI M |
发明人 |
DYMARKOWSKI KRZYSZTOF;ZAJAC RYSZARD;TOMASZEK ANDRZEJ |
| 分类号 |
C23F13/00;G01R29/24;(IPC1-7):G01R29/24 |
主分类号 |
C23F13/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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