基于温度控制光波导的光学性能监控器

摘要

本发明公开了一种基于温度控制光波导的光学性能监控器，包含外壳、温控系统、光纤阵列、阵列波导光栅芯片、光探测器阵列和电路板，光纤阵列、阵列波导光栅芯片和光探测器阵列耦合对准后固定，温控系统包含加热器和温度探测器，阵列波导光栅芯片安装在加热器上，光探测器阵列、加热器和温度探测器与电路板电连接。本发明通过温度控制实现通道波长变化，通过连续扫描特定频率通带获得光谱数据点，采用反卷积算法将信号波形还原，获得准确的信号谱线。产品可以实现50GHz和100GHz的扫描宽度，并且可以对产品生命周期中的波长漂移进行自校准。本发明的光学性能监控器结构相对紧凑，片上集成使得光损耗明显减小，可靠性也有明显改善。

主权项

一种基于温度控制光波导的光学性能监控器，其特征在于，包含外壳、温控系统、光纤阵列、阵列波导光栅芯片、光探测器阵列和电路板，所述光纤阵列与阵列波导光栅芯片的输入端耦合对准后固定，所述光探测器阵列与阵列波导光栅芯片的输出端耦合对准后固定，所述温控系统包含温度控制器和温度探测器，所述阵列波导光栅芯片安装在所述温度控制器上，所述光探测器阵列的输出电极、温度控制器的电极和温度探测器与电路板电连接，所述电路板读取温度探测器的温度信息和光探测器阵列的光电流，并输出温度控制信号给温度控制器；所述温控系统调节阵列波导光栅芯片的温度，以调节每个输出通道的工作波长，温控系统控制所述阵列波导光栅芯片的温度变化范围为0.4nm/k，其中k为所述阵列波导光栅芯片输出波长的温度相关系数。