发明名称 |
温度测试装置加热核心机构 |
摘要 |
本实用新型是温度测试装置加热核心机构,其结构包括支架(1),支架(1)底部连接底座(2),底座(2)中心开有散热孔(3),支架(1)的中心开有产品固定孔(4),支架(1)上设4块PTC加热片(5)。本实用新型的优点:加热核心机构加装2组共4块PTC加热片,每块单独控制,加热核心机构装有上下两个温度传感器,通过温度变化,可在控制器中演算出测试产品的正确温度;提升了加热散热效率,减少了热量逸散,稳定了测试温度,局部加热散热效率提升100%,控制温度误差为±0.5℃。 |
申请公布号 |
CN205833197U |
申请公布日期 |
2016.12.28 |
申请号 |
CN201620648752.3 |
申请日期 |
2016.06.27 |
申请人 |
无锡理衍工业自动化有限公司 |
发明人 |
李一楠 |
分类号 |
B01L7/00(2006.01)I |
主分类号 |
B01L7/00(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
温度测试装置加热核心机构,其特征包括支架(1),支架(1)底部连接底座(2),底座(2)中心开有散热孔(3),支架(1)的中心开有产品固定孔(4),支架(1)上设4块PTC加热片(5)。 |
地址 |
214000 江苏省无锡市南长区扬工路8号方顺科技园4F无锡理衍工业自动化有限公司 |