发明名称 | 鳍式场效应晶体管的形成方法 | ||
摘要 | 一种鳍式场效应晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极结构,所述栅极结构覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁,位于所述栅极结构两侧的鳍部内的源区和漏区;在所述源区和漏区上形成半导体外延层,所述半导体外延层表面具有棱角和凸出的尖端;氧化所述棱角和凸出的尖端,形成氧化层;去除所述氧化层。本发明的相邻两个鳍式场效应晶体管的嵌入式源/漏区之间不会接触,不会产生漏电流。 | ||
申请公布号 | CN103928328B | 申请公布日期 | 2016.12.28 |
申请号 | CN201310009285.0 | 申请日期 | 2013.01.10 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 三重野文健 |
分类号 | H01L21/336(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 骆苏华 |
主权项 | 一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极结构,所述栅极结构覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁,位于所述栅极结构两侧的鳍部内的源区和漏区;在所述源区和漏区上形成半导体外延层,所述半导体外延层表面具有棱角和凸出的尖端;氧化所述棱角和凸出的尖端,形成氧化层;去除所述氧化层。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 |