发明名称 鳍式场效应晶体管的形成方法
摘要 一种鳍式场效应晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极结构,所述栅极结构覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁,位于所述栅极结构两侧的鳍部内的源区和漏区;在所述源区和漏区上形成半导体外延层,所述半导体外延层表面具有棱角和凸出的尖端;氧化所述棱角和凸出的尖端,形成氧化层;去除所述氧化层。本发明的相邻两个鳍式场效应晶体管的嵌入式源/漏区之间不会接触,不会产生漏电流。
申请公布号 CN103928328B 申请公布日期 2016.12.28
申请号 CN201310009285.0 申请日期 2013.01.10
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 三重野文健
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 骆苏华
主权项 一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极结构,所述栅极结构覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁,位于所述栅极结构两侧的鳍部内的源区和漏区;在所述源区和漏区上形成半导体外延层,所述半导体外延层表面具有棱角和凸出的尖端;氧化所述棱角和凸出的尖端,形成氧化层;去除所述氧化层。
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