发明名称 位置检测系统以及投射型显示系统
摘要 本发明涉及位置检测系统以及投射型显示系统。光学式的位置检测系统具有朝向第1检测对象物与第2检测对象物射出光的光射出部、接收来自第1检测对象物的第1反射光的第1受光部、接收来自第2检测对象物的第2反射光的第2受光部,上述第1反射光与上述第2反射光的波长不同,上述第1检测对象物具有反射上述第1反射光的第1反射滤波器,上述第2检测对象物具有反射上述第2反射光的第2反射滤波器。
申请公布号 CN102707841B 申请公布日期 2016.12.28
申请号 CN201210064097.3 申请日期 2012.03.12
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 清濑摄内;远藤甲午
分类号 G06F3/042(2006.01)I 主分类号 G06F3/042(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 王轶;阎文君
主权项 一种位置检测系统,其特征在于,具有:光射出部,其朝向第1检测对象物与第2检测对象物射出光;受光部,其接收从所述第1检测对象物和所述第2检测对象物反射的光;以及位置检测部,其使用所述受光部所接收的光来检测所述第1检测对象物以及所述第2检测对象物的位置,所述第1检测对象物具有反射第1反射光的第1反射滤波器,所述第2检测对象物具有反射波长与所述第1反射光的波长不同的第2反射光的第2反射滤波器,所述受光部具有区别光的波长地来检测所述第1反射光的第1受光部与检测所述第2反射光的第2受光部,所述第1反射滤波器和所述第2反射滤波器具备频率滤波器,所述第1反射滤波器的频率滤波器的第1波段的反射率比第2波段的反射率高,所述第2反射滤波器的频率滤波器的所述第2波段的反射率比所述第1波段的反射率高,从所述光射出部射出的光是包括所述第1波段和所述第2波段的第3波段的光。
地址 日本东京都