发明名称 薄膜晶体管及其制造方法、阵列基板和显示装置
摘要 本发明涉及薄膜晶体管显示技术领域,公开了一种薄膜晶体管及其制造方法、阵列基板和显示装置,所述薄膜晶体管包括栅电极、有源层和源/漏电极,以及位于所述栅电极和有源层之间的栅绝缘层,其中:所述栅电极包括栅电极金属层和第一组保护层,所述第一组保护层位于栅电极金属层和栅绝缘层之间,将有源层和栅电极金属层隔离;所述栅电极金属层的材质为铜或铜合金。采用本发明技术方案,由于第一组保护层对栅电极金属层和有源层隔离开,因此,避免了铜扩散污染有源层,大大提高了产品的良率。
申请公布号 CN103227208B 申请公布日期 2016.12.28
申请号 CN201310123609.3 申请日期 2013.04.10
申请人 京东方科技集团股份有限公司 发明人 袁广才
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L29/43(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 杜秀科
主权项 一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括栅电极、有源层和源/漏电极,以及位于所述栅电极和有源层之间的栅绝缘层,其中:所述栅电极包括栅电极金属层和第一组保护层,所述第一组保护层位于栅电极金属层和栅绝缘层之间,将所述有源层和所述栅电极金属层隔离;所述栅电极金属层的材质为铜或铜合金,所述第一组保护层用于防止铜扩散至所述有源层;所述栅电极还包括第二组保护层,位于栅电极金属层背离第一组保护层的一侧;所述第二组保护层包括第一栅保护层和第二栅保护层,所述第二栅保护层位于第一栅保护层和栅电极金属层之间;所述第一栅保护层的材质为氮化硅或氮化钛;所述薄膜晶体管的源/漏电极包括源/漏电极金属层和第二源/漏保护层,所述第二源/漏保护层位于源/漏电极金属层和有源层之间,将源/漏电极金属层和有源层隔离;所述源/漏电极金属层的材质为铜或铜合金;所述第二源/漏保护层的材质为钼钛合金、钼钨合金、钼锆合金、钼铌合金、钼铜合金、钼钒合金、钼钽合金、钼镍合金、钼铬合金、钼铪合金、钼铑合金、钼钴合金、钼钯合金、钼铂合金、钼铝合金、钼锰合金、硅化钛、硅化钨、硅化锆、硅化铌、硅化铜、硅化钒、硅化钽、硅化镍、硅化铬、硅化铪、硅化铑、硅化钴、硅化钯、硅化铂、硅化铝或硅化锰;所述有源层的材质为金属氧化物半导体、晶硅或非晶硅。
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