发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
摘要 고주파 특성에 악영향을 주는 게이트-드레인 캐패시턴스의 증가를 최대한 억제하면서 항복전압을 향상시키고, 소자의 고주파 특성 열화를 최소화한 반도체 소자 및 이의 제조 방법이 개시된다. 이를 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 소자는 기판, 상기 기판의 상부에 형성되는 소스 전극, 기판의 상부에, 소스 전극에 이격하여 형성되는 드레인 전극, 기판, 소스 전극 및 드레인 전극의 상부에, 소스 전극 및 드레인 전극의 상부의 적어도 일부가 노출되도록 형성되며, 소정 부분에 있어서 제1 지점의 수직두께가 제2 지점의 수직두께와 상이하게 형성되는 유전막, 및 일측이 기판에 접촉하며, 타측이 유전막의 소정 부분의 상부로 연장되어 형성되는 게이트 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR20160119330(A) 申请公布日期 2016.10.13
申请号 KR20150047093 申请日期 2015.04.02
申请人 ELECTRONICS AND TELECOMMUNICATIONS RESEARCH INSTITUTE 发明人 CHO, KYU JUN;AHN, HO KYUN;KANG, DONG MIN;KIM, HAE CHEON;LIM, JONG WON;KWON, YONG HWAN;KIM, SEONG IL;NAM, EUN SOO;MIN, BYOUNG GUE;YOON, HYUNG SUP
分类号 H01L29/778;H01L29/417 主分类号 H01L29/778
代理机构 代理人
主权项
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