发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF |
摘要 |
고주파 특성에 악영향을 주는 게이트-드레인 캐패시턴스의 증가를 최대한 억제하면서 항복전압을 향상시키고, 소자의 고주파 특성 열화를 최소화한 반도체 소자 및 이의 제조 방법이 개시된다. 이를 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 소자는 기판, 상기 기판의 상부에 형성되는 소스 전극, 기판의 상부에, 소스 전극에 이격하여 형성되는 드레인 전극, 기판, 소스 전극 및 드레인 전극의 상부에, 소스 전극 및 드레인 전극의 상부의 적어도 일부가 노출되도록 형성되며, 소정 부분에 있어서 제1 지점의 수직두께가 제2 지점의 수직두께와 상이하게 형성되는 유전막, 및 일측이 기판에 접촉하며, 타측이 유전막의 소정 부분의 상부로 연장되어 형성되는 게이트 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다. |
申请公布号 |
KR20160119330(A) |
申请公布日期 |
2016.10.13 |
申请号 |
KR20150047093 |
申请日期 |
2015.04.02 |
申请人 |
ELECTRONICS AND TELECOMMUNICATIONS RESEARCH INSTITUTE |
发明人 |
CHO, KYU JUN;AHN, HO KYUN;KANG, DONG MIN;KIM, HAE CHEON;LIM, JONG WON;KWON, YONG HWAN;KIM, SEONG IL;NAM, EUN SOO;MIN, BYOUNG GUE;YOON, HYUNG SUP |
分类号 |
H01L29/778;H01L29/417 |
主分类号 |
H01L29/778 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|