发明名称 生化分离检测一体芯片及其制备方法
摘要 本发明公开了一种生化分离检测一体芯片,该芯片包括衬底、分离层固定相以及表面增强拉曼信号检测层,所述信号检测层通过第一黏合层连接到所述分离层固定相上,其中,所述分离层固定相包括由多个纳米单元构成的纳米阵列薄膜层;所述纳米阵列薄膜层的孔隙率为50%~70%;所述纳米单元的材料为SiO<sub>2</sub>或Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>。本发明提供的检测芯片可以实现对待测混合物样品进行快速分离和高灵敏度检测一体化,在食品、环境和临床医学等领域中具有广泛的应用前景。
申请公布号 CN104422751B 申请公布日期 2016.12.28
申请号 CN201310368510.X 申请日期 2013.08.22
申请人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;赵奕平 发明人 朱煜;赵奕平;赵一兵;张耀辉
分类号 G01N30/90(2006.01)I;G01N30/92(2006.01)I;G01N21/65(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 G01N30/90(2006.01)I
代理机构 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人 杨林;李友佳
主权项 一种生化分离检测一体芯片,其特征在于,包括衬底、分离层固定相以及表面增强拉曼信号检测层,所述信号检测层通过第一黏合层连接到所述分离层固定相上;所述分离层固定相包括由多个纳米单元构成的纳米阵列薄膜层,所述纳米阵列薄膜层的孔隙率为50%~70%;所述纳米单元的材料为SiO<sub>2</sub>或Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>,所述信号检测层为金属斜纳米棒阵列薄膜层,所述金属为Au或Ag;其中,所述纳米单元为斜纳米棒,以垂直于衬底的方向为基准,斜纳米棒倾斜的角度为20~50°,所述分离层固定相包括多个纳米阵列薄膜层,其中相邻两层纳米阵列薄膜层中的斜纳米棒呈相反方向倾斜;或者是,所述纳米单元为螺旋状纳米棒,并且所述螺旋状纳米棒的轴线垂直于衬底。
地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号
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