发明名称 X線回折測定装置
摘要 【課題】 測定対象物に対するX線の入射角を任意の角度にしても、その入射角を精度よく検出するX線回折測定装置を提供する。【解決手段】 出射X線と光軸を同一にした平行な可視光を測定対称物OBに照射したまま、フィードモータ22を駆動させることで移動させる。それぞれの移動位置において、結像レンズ48と撮像器49からなるカメラにより撮像を行い、測定対象物OBにおける可視光照射点の撮像器49における位置を検出し、移動位置ごとに可視光照射点からイメージングプレート15までの距離IP−OBを算出する。移動位置と距離IP−OBから測定対象物OBの表面プロファイルを求め、X線照射点における接線の傾きを計算することでX線の入射角を求める。【選択図】図1
申请公布号 JP6048547(B1) 申请公布日期 2016.12.21
申请号 JP20150149134 申请日期 2015.07.29
申请人 パルステック工業株式会社 发明人 丸山 洋一
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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