一种减少ICP‑MS、ICP‑AES全过程分析误差的定量检测方法

摘要

本发明公开了一种减少ICP‑MS、ICP‑AES全过程分析误差的定量检测方法，该方法包括内标元素选择、样品溶液制备、标准曲线制备、样品检测及结果计算四个步骤；通过在样品处理过程中尽早加入内标，从而通过内标校正消除了基体干扰及全过程分析误差的目的。与常规的检测方法相比，该方法不仅简化了处理手续，缩短了操作时间，还扩大了样品的检测范围，在保证样品检测结果准确的同时，还能降低生产成本。

主权项

一种减少ICP‑MS、ICP‑AES全过程分析误差的定量检测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：a、内标元素选择：根据样品类型和待测元素的检测方法选择内标元素，所选内标元素应符合以下条件：样品中不含内标元素；内标元素受到的干扰少；使用ICP‑AES检测时，待测元素分析线与内标元素分析线的电离能相近，尽可能在同一波段或具有较一致的电离行为，即具有好的相关性；使用ICP‑MS检测时，待测元素与内标元素质量数及电离能尽可能接近；b、样品溶液的制备：内标在样品处理前或样品处理过程中加入，然后制备成样品溶液；c、标准曲线制备：在标准系列溶液中加入内标，并混合均匀；d、样品检测及结果计算：先进行标准曲线的检测，绘制曲线后再进行样品的检测。