| 摘要 |
본 발명은 이차원 라이팅 기판 상에서 라이팅하는 동안에 관성 측정 센서로 전자 펜의 이동 패턴과 펜 위치를 검출하고 평가하는 방법에 관한 것이며, 라이팅 기판 상에 서로 직교하는 두 축 X, Y 및 X 축은 특정 라이팅 방향을 정의하는, 이차원 라이팅 기판과 직교하는 Z축을 초기 지정하는 단계뿐만 아니라 다음 단계: 미리 정의된 시간 간격 동안 및 서로 직교하는 두 축 X, Y(101 , 102, 201 , 202)을 따라 라이팅 하는 동안 측정 센서의 센서 데이터의 적분을 통해 관성 측정 센서에 의해 결정되는 라이팅 기판(108, 205) 상의 펜 이동의 미리 설정된 주파수에 대한 이동 평균 프로세스를 위한 단계 및 현재 결정된 이동 평균 값과 초기 평균 값 및/또는 미리 결정된 미동 평균 값과의 주기적인 비교 단계 및 상기 비교 동안 현재 결정된 이동 평균 값과 초기 평균 값 사이에 발생하는 편차 및/또는 현재 결정된 이동 평균 값과 미리 결정된 이동 평균 값 사이의 편차를 출력되는 펜 포지션 신호로부터 빼는 단계를 포함하는 출력되는 펜 포지션 신호에서 바람직하지 않은 드리프트를 보정하는 단계를 포함한다. |
