发明名称 基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法
摘要 本发明涉及一种基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法,包括如下步骤:获取待测样品,于所述待测样品中加入溶剂制成待测样品溶液;于所述待测样品溶液中加入内标液,得待测液;所述内标液包括浓度为50~150mg/L的钇元素;将所述待测液滴加至载样片上,干燥成膜,然后利用全反射X射线荧光光谱仪进行检测,即可。上述元素检测方法,利用TXRF作为检测方法的同时,将包含一定浓度钇元素的溶液以内标液的形式加入待测样品溶液中,由此校正被测元素的峰面积变化,经过修正算法,可以给TXRF仪的测试带来良好的线性度,相应的也可以消除环境因素的干扰,使最终测试结果的精确度大大提升,尤其适用于土壤或污水中痕量元素的检测。
申请公布号 CN106248710A 申请公布日期 2016.12.21
申请号 CN201610814665.5 申请日期 2016.09.09
申请人 广州市怡文环境科技股份有限公司 发明人 石平;徐剑飞
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 万志香
主权项 一种基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法,其特征在于,包括如下步骤:获取待测样品,于所述待测样品中加入溶剂制成待测样品溶液;于所述待测样品溶液中加入内标液,得待测液;所述内标液包括浓度为50~150mg/L的钇元素;将所述待测液滴加至载样片上,干燥成膜,然后利用全反射X射线荧光光谱仪进行检测。
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