发明名称 |
基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法 |
摘要 |
本发明涉及一种基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法,包括如下步骤:获取待测样品,于所述待测样品中加入溶剂制成待测样品溶液;于所述待测样品溶液中加入内标液,得待测液;所述内标液包括浓度为50~150mg/L的钇元素;将所述待测液滴加至载样片上,干燥成膜,然后利用全反射X射线荧光光谱仪进行检测,即可。上述元素检测方法,利用TXRF作为检测方法的同时,将包含一定浓度钇元素的溶液以内标液的形式加入待测样品溶液中,由此校正被测元素的峰面积变化,经过修正算法,可以给TXRF仪的测试带来良好的线性度,相应的也可以消除环境因素的干扰,使最终测试结果的精确度大大提升,尤其适用于土壤或污水中痕量元素的检测。 |
申请公布号 |
CN106248710A |
申请公布日期 |
2016.12.21 |
申请号 |
CN201610814665.5 |
申请日期 |
2016.09.09 |
申请人 |
广州市怡文环境科技股份有限公司 |
发明人 |
石平;徐剑飞 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
万志香 |
主权项 |
一种基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法,其特征在于,包括如下步骤:获取待测样品,于所述待测样品中加入溶剂制成待测样品溶液;于所述待测样品溶液中加入内标液,得待测液;所述内标液包括浓度为50~150mg/L的钇元素;将所述待测液滴加至载样片上,干燥成膜,然后利用全反射X射线荧光光谱仪进行检测。 |
地址 |
510730 广东省广州市经济技术开发区南云三路12号 |