发明名称 一种铁磁元件空载特性低频测量方法
摘要 一种铁磁元件空载特性的低频测量方法,主要包括如下步骤:第一步:根据T型等效电路,建立高压侧开路等效电路,在低压侧施加2个频率不同的低频正弦波,计算各个频率下的铁心损耗;第二步:计算单位周期产生的单位磁滞和涡流损耗W<sub>e</sub>和W<sub>h</sub>,并计算折算至工频下的铁心损耗P<sub>Coren</sub>;第三步:根据涡流电流补偿算法计算折算至工频下的励磁电流I<sub>exn</sub>、谐波含量K<sub>(k)</sub>、励磁电压U<sub>n</sub>;第四步:计算空载损耗P<sub>n</sub>;第五步:绘制P<sub>Coren</sub>‑U<sub>n</sub>,I<sub>exn</sub>‑U<sub>n</sub>关系曲线,以及K<sub>(k)</sub>‑U<sub>n</sub>谐波含量表格。该方法采用低频电源代替工频电源开展试验可以成倍减低试验电源容量、减小试验设备体积和重量,使试验成本更低。
申请公布号 CN106249068A 申请公布日期 2016.12.21
申请号 CN201610536618.9 申请日期 2016.07.08
申请人 云南电力试验研究院(集团)有限公司;云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电力技术有限责任公司 发明人 刘鑫;梁仕斌;姚陈果;刘涛;王磊;田庆生
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 昆明大百科专利事务所 53106 代理人 何健
主权项 一种铁磁元件空载特性的低频测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:根据T型等效电路,建立高压侧开路等效电路,在低压侧施加2个频率不同的低频正弦波,计算各频率下的铁心损耗;步骤二:采用插值法计算频率不同、相等E/f时的铁心损耗,计算不电压下单位周期产生的单位磁滞和涡流损耗W<sub>e</sub>和W<sub>h</sub>,并计算折算至工频下的铁心损耗P<sub>Coren</sub>;步骤三:根据涡流电流补偿算法计算折算至工频下的励磁电流I<sub>exn</sub>、谐波含量K<sub>(k)</sub>、励磁电压U<sub>n</sub>;步骤四:根据对折算到工频下的铁损耗和铜损耗来计算空载损耗P<sub>n</sub>;步骤五:绘制P<sub>Coren</sub>‑U<sub>n</sub>,I<sub>exn</sub>‑U<sub>n</sub>关系曲线,以及K<sub>(k)</sub>‑U<sub>n</sub>谐波含量表格。
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