发明名称 半实物仿真系统多源目标模拟装置指向精度的校准方法
摘要 本发明涉及一种半实物仿真系统多源目标模拟装置指向精度的校准方法,使用标准成像探测设备和多源目标模拟装置组成校准系统。使用标准成像探测设备测试每个通道的光轴指向角度和视场覆盖范围,找到所有通道的视场重叠区域。确定视场重叠区域的几何中心为目标模拟装置中心轴,将所有通道通过初始位置补偿的方法调整至目标模拟装置中心轴,从而实现多源目标模拟装置指向精度的校准。校准过程中不需要对硬件或机械结构进行调整,仅通过对初始位置进行固定补偿即可实现多源目标模拟装置多通道复合精度的校准。
申请公布号 CN106249315A 申请公布日期 2016.12.21
申请号 CN201610651322.1 申请日期 2016.08.10
申请人 上海机电工程研究所 发明人 杨扬;李奇;李艳红;李凡;田义;赵海生;左振红
分类号 G01V13/00(2006.01)I 主分类号 G01V13/00(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 苗绘;朱成之
主权项 一种半实物仿真系统多源目标模拟装置指向精度的校准方法,其特征在于,通过所述标准成像探测设备分别接收由多源目标模拟装置内部多个通道发射的光束;所述校准方法,进一步包含以下过程:S1、通过标准成像探测设备分别测得多源目标模拟装置中每个通道的光轴指向角度;S2、通过标准成像探测设备分别测得多源目标模拟装置中每个通道的视场覆盖范围;S3、根据每个通道的视场覆盖范围确定多源目标模拟装置中多个通道的视场重叠区域,将视场重叠区域的几何中心位置确定为多源目标模拟装置的中心轴;S4、根据中心轴和每个通道的光轴指向角度的夹角测试结果,将每个通道的光轴指向角度调整至多源目标模拟装置的中心轴。
地址 201109 上海市闵行区元江路3888号