校准光子探测器的方法、吸收滤波器组件和成像装置

摘要

本发明公开了一种用于校准光子计数探测器(3)的方法。吸收滤波器(7)被横向地移动通过朝向探测器(3)发射的光子射束(8)，以将吸收滤波器(7)的非均匀性的影响平均化。本发明也涉及吸收滤波器组件以及包括这样的吸收滤波器组件的成像设备(1)。

主权项

一种用于校准光子计数探测器(3)的方法，包括以下步骤：‑将吸收滤波器(7)放置(101)在光子源(2)与所述光子计数探测器之间；‑从所述源朝向所述光子计数探测器将光子射束发射(102)通过所述吸收滤波器；‑将所述吸收滤波器横向地移动(103)通过所发射的光子射束；并且‑利用所述光子计数探测器来探测(104)经滤波的光子射束。