发明名称 一种基板翘曲量的测量装置及方法
摘要 本发明提供了一种基板翘曲量的测量装置及方法,用于测量显示母板的基板翘曲量,所述显示母板包括相对而置的第一基板和第二基板,所述测量装置包括:光源、测量目镜及处理器;所述光源,用于向所述显示母板的待测量区域发射单色光,形成牛顿环干涉图案;所述测量目镜,用于采集所述牛顿环干涉图案,并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数;所述处理器,与所述测量目镜连接,用于根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长,得到每条干涉条纹处的空气层厚度,以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量。本发明能够判定显示区域边缘处的发黄程度,进而在制程中对局部发黄进行监控,避免资材浪费。
申请公布号 CN106247967A 申请公布日期 2016.12.21
申请号 CN201610687178.7 申请日期 2016.08.18
申请人 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 发明人 蒋学兵
分类号 G01B11/16(2006.01)I 主分类号 G01B11/16(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 李相雨
主权项 一种基板翘曲量的测量装置,用于测量显示母板的基板翘曲量,所述显示母板包括相对而置的第一基板和第二基板,其特征在于,所述测量装置包括:光源、测量目镜及处理器;所述光源,用于向所述显示母板的待测量区域发射单色光,在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案;所述测量目镜,用于采集所述牛顿环干涉图案,并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数;所述处理器,与所述测量目镜连接,用于根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长,得到每条干涉条纹处的空气层厚度,以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量;其中,所述显示母板的待测量区域包括:水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。
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