发明名称 |
在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法 |
摘要 |
本发明公开了一种在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法,涉及散射参数校准技术领域。该方法包括:根据算法分析及工艺加工能力设定多线TRL校准件传输线在目标频带下的几何尺寸及个数,并制作多线TRL校准件;测量多线TRL校准件的几何量;通过测量多线TRL校准件传输线的线电容,并结合传播常数得到多线TRL校准件传输线的特征阻抗。上述在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法给出了传输线长度、导体厚度的选取准则,实现多线TRL校准件的准确定义,且经验证多线TRL校准件设计合理,准确度较高。 |
申请公布号 |
CN106249187A |
申请公布日期 |
2016.12.21 |
申请号 |
CN201610763763.0 |
申请日期 |
2016.08.30 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第十三研究所 |
发明人 |
栾鹏;王一帮;吴爱华;梁法国;孙静;刘晨;孙晓颖;韩志国;张立飞;丁立强 |
分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 |
石家庄国为知识产权事务所 13120 |
代理人 |
申超平 |
主权项 |
一种在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法,其特征在于,包括以下步骤:1)根据算法分析及工艺加工能力设计多线TRL校准件传输线在目标频带下的几何尺寸及个数,并制作多线TRL校准件;2)测量所述多线TRL校准件的几何量;3)通过测量所述多线TRL校准件传输线的线电容,并结合传播常数得到所述多线TRL校准件传输线的特征阻抗。 |
地址 |
050051 河北省石家庄市合作路113号 |