发明名称 具有金属栅极的半导体元件的制作方法
摘要 本发明提供一种制作具有金属栅极的半导体元件的方法。首先提供基底。基底包括第一导电型晶体管、第二导电型晶体管。第一导电型晶体管包括第一牺牲栅极,第二导电型晶体管包括第二牺牲栅极。接着移除第一牺牲栅极,以形成第一沟槽,并于第一沟槽内形成第一金属层以及第一物质层。平坦化第一金属层以及第一物质层。接着移除第二牺牲栅极,以形成第二沟槽,并于第二沟槽内形成第二金属层以及第二物质层。最后,平坦化第二金属层以及第二物质层。
申请公布号 CN102683282B 申请公布日期 2016.12.14
申请号 CN201110057040.6 申请日期 2011.03.10
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 廖柏瑞;蔡宗龙;林建廷;徐韶华;吕水烟;周珮玉;陈信琦;廖俊雄;蔡尚元;杨建伦;蔡腾群;林俊贤
分类号 H01L21/8238(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L21/8238(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 彭久云
主权项 一种制作具有金属栅极的半导体元件的方法,包括:提供基底,其中该基底包括第一导电型晶体管、第二导电型晶体管,其中该第一导电型晶体管包括第一牺牲栅极,该第二导电型晶体管包括第二牺牲栅极;移除该第一导电型晶体管的该第一牺牲栅极,以形成第一沟槽;于该第一沟槽内形成第一金属层以及第一物质层;平坦化该第一金属层以及该第一物质层;在平坦化该第一金属层以及该第一物质层之后,在未形成掩模层的情形下,直接移除该第二导电型晶体管的该第二牺牲栅极,以形成第二沟槽;于该第二沟槽内形成第二金属层以及第二物质层;平坦化该第二金属层以及该第二物质层后;以及完全移除该第一沟槽内的该第一物质层。
地址 中国台湾新竹科学工业园区