发明名称 SOI射频开关结构及集成电路
摘要 一种SOI射频开关结构及集成电路。SOI射频开关结构包括第一支路和第二支路。而且,所述SOI射频开关结构还包括附加晶体管,其中附加晶体管的源极和漏极通过第五电阻器连接,而且附加晶体管的栅极、源极和漏极分别连接至第二支路的第一个MOS晶体管的栅极、源极和漏极。在本发明中,射频开关的基本结构包含串联之路和并联支路;本发明在并联连支路的第一级和/或第二级增加并联的晶体管结构,以使电压分配更加均匀,由此使得第一级和/或第二级的电容变大,从而分压变小。
申请公布号 CN106230417A 申请公布日期 2016.12.14
申请号 CN201610596338.7 申请日期 2016.07.27
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 刘张李
分类号 H03K17/687(2006.01)I 主分类号 H03K17/687(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅
主权项 一种SOI射频开关结构,其特征在于包括:第一支路和第二支路;其中,第一支路包括按照前一个MOS晶体管的源极连接至相邻的后一个MOS晶体管的漏极的方式依次并排布置的多个MOS晶体管,其中每个MOS晶体管的源极和漏极通过各自的第一电阻器连接,每个MOS晶体管的栅极通过各自的第二电阻器连接第一栅极电压,第一个MOS晶体管的漏极连接至输入信号,最后一个MOS晶体管的源极连接天线;其中,第二支路包括按照前一个MOS晶体管的源极连接至相邻的后一个MOS晶体管的漏极的方式依次并排布置的多个MOS晶体管,其中每个MOS晶体管的源极和漏极通过各自的第三电阻器连接,每个MOS晶体管的栅极通过各自的第四电阻器连接第二栅极电压,第一个MOS晶体管的漏极连接至输入信号,最后一个MOS晶体管的源极接地;而且,所述SOI射频开关结构还包括附加晶体管,其中附加晶体管的源极和漏极通过第五电阻器连接,而且附加晶体管的栅极、源极和漏极分别连接至第二支路的第一个MOS晶体管的栅极、源极和漏极;其中,第一支路和第二支路的每个MOS晶体管的衬底通过电阻接地。
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