发明名称 |
一种高压真空器件内部放电状态的检测方法 |
摘要 |
高压真空器件作为一种重要设备已成为工业发展不可或缺的一部分。一般高压真空器件都是封闭结构,无法直接判断内部情况。本发明利用根据高压真空器件在加高压条件下,内部零件有场致发射点或放电点,逸出的电子在电场作用下将会形成高速电子流轰击阳极端材料产生X射线这一特点,提供一种高压真空器件内部放电状态的检测方法,判断所测高压真空器件内部是否放电,并准确判断出放电点对应的位置。研发人员可通过此方法了解高压真空器件内部放电状态,通过改进生产工艺和器件结构,提高高压真空器件性能和质量。 |
申请公布号 |
CN106226666A |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201610774129.7 |
申请日期 |
2016.08.31 |
申请人 |
成都凯赛尔电子有限公司 |
发明人 |
刘斌;张晓梅;杨晓风;陈帅;冯家豪 |
分类号 |
G01R31/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/12(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种高压真空器件内部放电状态的检测方法,其特征在于,包括:步骤一:胶片布置,在高压真空器件外表面放置X射线胶片;步骤二:位置标识,在X射线胶片上对应标识出高压真空器件表面位置;步骤三:接通高压,对高压真空器件持续通入高压;步骤四:胶片冲洗;步骤五:结果分析,对冲洗后的胶片进行分析,并判断放电点的相对位置。 |
地址 |
610500 四川省成都市新都工业东区黄鹤路99号 |