发明名称 |
用于表征零件的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种用于表征零件(10)的方法,包括获得所述零件的X射线层析摄影图像的步骤,随后是将所述图像与参照(20)进行相关的步骤(200),其特征在于:所述相关步骤(200)包括在预定的一组X射线层析摄影图像的变换(30)中查找使所述图像和参照之间的差异(50)最小化的变换(40),以表征(300,350)所述零件(10)的内部。 |
申请公布号 |
CN106233126A |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201480070103.3 |
申请日期 |
2014.12.09 |
申请人 |
斯内克马公司;中央科学研究中心;卡尚高等师范学校 |
发明人 |
J·施奈德;F·希尔德;H·莱克勒克;S·罗克斯 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G06K9/64(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
顾嘉运 |
主权项 |
一种表征零件(10)的方法,所述方法包括获得零件的X射线层析摄影图像(100)的步骤并且随后将所述图像与参照(20)进行相关的步骤(200),所述方法的特征在于:所述相关步骤(200)包括在预定的一组X射线层析摄影图像变换(30)中查找一个使所述图像和所述参照之间的差异(50)最小化的变换(40),以便表征(300;350;400;500)所述零件(10)的内部。 |
地址 |
法国巴黎 |