发明名称 | 磁共振成像装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种磁共振成像装置,包含:计测参数设定部,其设定用于确定高频磁场的强度、倾斜磁场的强度以及高频磁场的定时、倾斜磁场的定时的计测参数;以及计测部,其按照计测参数来对放置在静磁场之中的被检测体施加高频磁场以及倾斜磁场,并将从所述被检测体产生的核磁共振信号作为复信号进行检测,所述计测参数设定部具备:基本参数输入部,其设定摄像参数和摄像截面;制约条件输入部,其设定对体素尺寸的设定给予制约的制约条件;体素尺寸计算部,其按照所述制约条件来设定体素尺寸;以及体素尺寸提示部,其向用户提示已设定的所述体素尺寸。 | ||
申请公布号 | CN104349716B | 申请公布日期 | 2016.12.14 |
申请号 | CN201380030125.2 | 申请日期 | 2013.06.24 |
申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 佐藤良太;白猪亨;谷口阳;五月女悦久;尾藤良孝 |
分类号 | A61B5/055(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/055(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 王亚爱 |
主权项 | 一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:静磁场施加单元,其对被检测体施加静磁场;倾斜磁场施加单元,其对所述被检测体施加倾斜磁场;高频磁场脉冲照射单元,其对所述被检测体照射高频磁场脉冲;接收单元,其从所述被检测体接收核磁共振信号;以及计算单元,其控制所述倾斜磁场与所述高频磁场脉冲并对接收到的所述核磁共振信号进行运算,所述计算单元具备:计测参数设定部,其设定用于确定高频磁场的强度、倾斜磁场的强度以及高频磁场的定时、倾斜磁场的定时的计测参数;计测部,其按照计测参数来对放置在静磁场之中的被检测体施加高频磁场以及倾斜磁场,并将从所述被检测体产生的核磁共振信号作为复信号进行检测;运算部,其对所述复信号进行运算,来生成图像;以及显示处理部,其将生成的所述图像显示于显示装置,所述计测参数设定部具备:基本参数输入部,其设定摄像参数和摄像截面;制约条件输入部,其设定对体素尺寸的设定给予制约的制约条件;体素尺寸计算部,其按照所述制约条件来设定体素尺寸;以及体素尺寸提示部,其对用户提示已设定的所述体素尺寸,所述体素尺寸计算部具备静磁场方向计算部,该静磁场方向计算部计算所述静磁场相对于所述摄像截面的磁场方向。 | ||
地址 | 日本东京都 |