发明名称 芯片自动检测装置
摘要 本实用新型属于集成电路芯片生产加工检测技术领域,公开了一种芯片自动检测装置,包括工作台、设置在所述工作台中间的机器人、控制模块,所述工作台的四周分别设置料仓和多个芯片检测盒,在所述料仓侧边通过相机支架设置视觉相机,所述料仓包括上料仓和下料仓,在所述料仓靠近所述机器人的一侧为上料工位,在所述上料工位的侧边设置废料盒。本实用新型实现了对芯片的检测的自动化,检测效率高,减少了人工干预带来的不利因素。
申请公布号 CN205809237U 申请公布日期 2016.12.14
申请号 CN201620014883.6 申请日期 2016.01.08
申请人 上海恒浥智能科技股份有限公司 发明人 任宁
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 翟羽
主权项 一种芯片自动检测装置,其特征在于:包括工作台、设置在所述工作台中间的机器人、控制模块,所述工作台的四周分别设置料仓和多个芯片检测盒,在所述料仓侧边通过相机支架设置视觉相机,所述料仓包括上料仓和下料仓,在所述料仓靠近所述机器人的一侧为上料工位,在所述上料工位的侧边设置废料盒。
地址 201203 上海市浦东新区自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼A661-16室