发明名称 |
用于扫频光学相干层析成像的设备及方法 |
摘要 |
一种用于扫频光学相干层析成像的设备,包括光谱可调光源和探测器,所述光谱可调光源用于发射相干光的,所述探测器用于获取来自所述光源的相干光所辐射对象背向散射的传送光的强度。另外,所述设备包括控制装置,该控制装置被设置为控制所述光源和所述探测器在所述光源被调谐的同时由所述探测器按照规定的测量次数来执行强度获取,为了改变所述层析图的测量深度和/或轴向分辨率,所述控制装置被进一步设置为对所述规定的测量次数和/或所述探测器执行所述强度获取所在的光谱测量带宽加以改变。 |
申请公布号 |
CN104011498B |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201280063063.0 |
申请日期 |
2012.12.19 |
申请人 |
视乐有限公司 |
发明人 |
奥勒·马索;亨宁·威斯维;托比亚斯·热格洛茨 |
分类号 |
G01B9/02(2006.01)I;A61B3/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01B9/02(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
李晓芳 |
主权项 |
一种用于扫频光学相干层析成像的设备(10),包括:光谱可调光源(14),用于发射相干光;探测器(34),用于获取干涉光的强度,所述干涉光由来自所述光源的相干光所辐射对象(12)背向散射的传送光与参考光的叠加产生,以及控制装置(16),用于控制所述光源(14)和所述探测器(34)在所述光源(14)被调谐的同时由所述探测器(34)按照规定的测量次数来执行强度获取;其中,为了改变所述层析成像的测量深度和轴向分辨率中的至少一个,所述控制装置被配置为对所述规定的测量次数和所述探测器(34)执行所述强度获取所在的光谱测量带宽中的至少一个加以改变。 |
地址 |
德国埃朗根 |