| 摘要 |
본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로버에 관한 것으로, 검사용 회로기판; 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭;을 포함하며, 상기 탄성블럭의 일부는 상면이 상기 검사용 회로기판의 표면에 대해 소정의 경사를 가지도록 하부로 기울어져 형성되는 것을 특징으로 한다. 이를 통해 디스플레이 패널 검사용 프로버는 하부로 기울어져 형성되는 탄성블럭의 상면을 통해 디스플레이 패널과 프로버간의 검사 수행 시 접촉 면에서 발생하는 다양한 이물질의 제거가 용이할 뿐만 아니라, 탄성블럭 상면에 위치하는 탐침부 주변만이 디스플레이 패널과 접촉하여 이상 유무 검사 시 가압에 의해 발생하는 접촉면적을 최소화함으로써, 검사의 반복적 수행에 의해 발생하는 다양한 이물질의 발생 빈도를 낮출 수 있도록 한다. |
