| 发明名称 |
ＡＦＭ先端を被膜するための方法、ＡＦＭ先端、及びＡＦＭ先端の使用 |
| 摘要 |
The present invention relates to a method for covering Atomic Force Microscopy (AFM) tips by depositing a material in the form of nanoparticles with an aggregate source. |
| 申请公布号 |
JP6044786(B2) |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
| 申请号 |
JP20130509581 |
申请日期 |
2011.05.04 |
| 申请人 |
コンセホ スペリオール デ インヴェスティガシオネス シエンティフィカス（シーエスアイシー） |
发明人 |
ローマン ガルシア，エリザ レオノール;マルティネズ オレッラナ，リディア;ディアズ ラゴス，メルセデス;フッテル，イヴス |
| 分类号 |
G01Q60/42 |
主分类号 |
G01Q60/42 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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