发明名称 用于二阶导数边缘检测方法的边缘取向
摘要 提供一种改善的边缘检测算法,其利用图像的强度分布函数的二阶导数来提供所检测边缘的边缘取向信息。该改善的算法的一示范性实施例包括确定强度分布函数的二阶导数,识别水平方向和垂直方向上的过零,向所识别的水平方向和垂直方向上的过零分配角信息;以及基于为边缘和相邻边缘的水平和垂直过零分配的角信息识别边缘取向。
申请公布号 CN102870138B 申请公布日期 2016.12.14
申请号 CN201180020612.1 申请日期 2011.03.14
申请人 美国亚德诺半导体公司 发明人 G·卡拉纳姆;B·库斯塔施尔
分类号 G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 冯玉清
主权项 一种图像处理装置,包括边缘检测和分类模块,所述边缘检测和分类模块:基于沿着包含像素的像素行的强度分布的二阶导数中的过零点和沿着包含所述像素的像素列的强度分布的二阶导数中的过零点检测图像中的所述像素的边缘,以及基于上述各过零点和基于沿着包含相邻像素的像素行的强度分布的二阶导数中的过零点和沿着包含所述相邻像素的像素列的强度分布的二阶导数中的过零点确定所述像素的边缘取向。
地址 美国马萨诸塞州