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Verfahren zur Fluoreszenzlebensdauermessung, wobei eine periodisch in einer ersten Frequenz modulierte Anregungslichtstrahlung (12a) auf ein fluoreszierendes Material (20) gerichtet wird und zur Messung der Fluoreszenzlebensdauer die Phasendifferenz zwischen der Anregungslichtstrahlung (12a) und der Fluoreszenzstrahlung (20a), die durch einen Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) erfasst wird, gemessen wird, dadurch gekennzeichnet, dass als Korrektursignal eine periodisch in einer zweiten Frequenz modulierte Korrekturlichtstrahlung (16a) auf den Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) gerichtet wird und eine durch die Messschaltung verursachte Phasendrift zwischen der ausgesendeten Korrekturlichtstrahlung (16a) und der durch den Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) erfassten und durch die Messschaltung verarbeiteten Korrekturlichtstrahlung (16a) gemessen wird, wobei die Korrekturlichtstrahlung (16a) über einen Splitter (26) aufgeteilt und über einen Koppler (28) dem Anregungsstrahlungs-Referenzdetektor (14) zugeführt wird und dem Anregungsstrahlungs-Referenzdetektor (14) ein Teil der Anregungsstrahlung (12a) für einen Vergleich der Phasenlage der Anregungsstrahlung (12a) mit der vom Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) empfangenen Fluoreszenzstrahlung (20a) zum Ermitteln der hieraus resultierenden Phasendifferenz zugeführt wird, wobei die Phasendrift zwischen der durch den Anregungsstrahlungs-Referenzdetektor (14) empfangenen Korrekturlichtstrahlung (16a) und der durch den Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) und durch die Messschaltung (19) verarbeiteten Korrekturlichtstrahlung (16a) mit der Phasendifferenz zwischen der Anregungslichtstrahlung (12a) und der Fluoreszenzstrahlung (20a), die durch den Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) gemessen wird, verrechnet wird, um den durch die Phasendrift der Messschaltung erzeugten Messfehler zu kompensieren. |
