发明名称 自动位准调整电路
摘要 本发明系限制在零交叉时(zero cross)产生变更的增益之衰减量,并防止放大器的增益之下降超过的现象。以比较输出手段(310)将经过数位变换之输入信号的信号位准和特定的基准位准作比较,并输出该比较结果。通常时系将自该比较输出手段(310)所输出的信号作为前侵检测输出信号而自前侵(attack)检测输出手段(340)输出。另一方面,在输入信号的零交叉间,当比较结果信号达到可变更增益之特定的最大步骤数时,则藉由自遮蔽信号输出手段(320、330)所输出的遮蔽信号而遮蔽该最大步骤数以上之部份的信号,并将该遮蔽的由比较输出手段(310)的输出信号作为前侵检测输出信号而自前侵检测输出手段(340)输出。
申请公布号 TWI287352 申请公布日期 2007.09.21
申请号 TW094117770 申请日期 2005.05.31
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 野竹恭弘
分类号 H03G3/20(2006.01) 主分类号 H03G3/20(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项 1.一种自动位准调整电路,其特征为含有: 增益可变式放大器,系藉由设定增益而放大输入信 号; 比较输出电路,系将该增益可变式放大器的输出信 号位准和特定的基准位准作比较,并输出其比较结 果作为比较结果信号而输出; 输出信号限制电路,系就前述输入信号的1个零交 叉和另1个零交叉之间所输出的前述比较结果信号 之中,限制成将在特定的输出时间内所输出的部份 之比较结果信号予以输出;以及 前侵检测输出电路,系在前述比较结果信号为超过 前述特定输出时间以上而输出时,将从前述比较输 出电路输出之输出信号限制成将在前述特定的输 出时间内所输出的部份之比较结果信号而输出,以 作为前侵检测输出信号。 2.如申请专利范围第1项之自动位准调整电路,其中 , 前述增益可变式放大器系步骤性地变更增益, 前述输出信号限制电路系记忆有前述零交叉间之 可变更增益的步骤数,而就前述比较结果信号,除 了前述可变更增益的步骤数以上的部份之比较结 果信号以外,输出比较结果信号。 3.如申请专利范围第2项之自动位准调整电路,其中 , 前述输出信号限制电路系含有: 计数器,系以时脉信号的时序进行前述比较结果信 号的计数;以及 正反器,系当使用前述计数器而计数之比较结果的 计数数目,在零交叉时达到可变更增益的特定步骤 数之比较结果的计数次数时,则藉由来自计数器的 信号而进行设定,并输出遮蔽信号; 而就可变更增益的特定步骤数以上之比较结果信 号,根据前述遮蔽信号作成为遮蔽之状态而输出前 述比较结果信号。 4.如申请专利范围第3项之自动位准调整电路,其中 , 前述正反器系在前述输入信号之零交叉时,藉由零 交叉信号的输入而进行重置。 5.如申请专利范围第1至第4项中任一项之自动位准 调整电路,其中, 前述前侵检测输出电路系一种用以取得前述比较 结果信号和前述遮蔽信号之反转信号之逻辑积的 逻辑电路。 图式简单说明: 第1图为使用本发明之一实施形态的可程式化增益 放大器之数位检波方式之自动位准调整电路的电 路图。 第2图为表示第1图之自动位准调整电路的位准检 测部所具备之前侵检测电路的电路构成图。 第3图为表示第2图之前侵检测电路的比较结果信 号、遮蔽信号、前侵检测信号、以及放大的输入 声音信号的关系。 第4图为使用本发明之另一实施形态的可程式化增 益放大器之数位检波方式之自动位准调整电路的 电路图。 第5图为表示第4图之自动位准调整电路的位准检 测部所具备之前侵检测电路的电路构成图。 第6图为使用习知之可程式化增益放大器之数位检 波方式之自动位准调整电路的电路图。
地址 日本