| 发明名称 | 一种测试方法及测试设备 | ||
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种测试方法及测试设备。所述测试设备用于测试芯片中的存储模块；所述方法包括：生成多个第一伪随机序列；将所述多个第一伪随机序列分别写入所述存储模块；读取所述存储模块中存储的多个第二伪随机序列；比对写入所述存储模块的所述多个第一伪随机序列和从所述存储模块读取的所述多个第二伪随机序列；当所述多个第一伪随机序列和所述多个第二伪随机序列不完全匹配时，判定所述存储模块处于异常状态。 | ||
| 申请公布号 | CN106205736A | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
| 申请号 | CN201610500517.6 | 申请日期 | 2016.06.29 |
| 申请人 | 联想（北京）有限公司 | 发明人 | 王宏伟 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I;G11C29/18(2006.01)I;G11C29/10(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人 | 张颖玲;姚开丽 |
| 主权项 | 一种测试方法，应用与测试设备中；所述测试设备用于测试芯片中的存储模块；其特征在于，所述方法包括：生成多个第一伪随机序列；将所述多个第一伪随机序列分别写入所述存储模块；读取所述存储模块中存储的多个第二伪随机序列；比对写入所述存储模块的所述多个第一伪随机序列和从所述存储模块读取的所述多个第二伪随机序列；当所述多个第一伪随机序列和所述多个第二伪随机序列不完全匹配时，判定所述存储模块处于异常状态。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地西路6号 | ||