发明名称 | 检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法 | ||
摘要 | 检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法,涉及光电测量领域,填补了检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法空白的问题。该方法包括以下步骤:主光栅与滑架定位后,在主光栅上与滑架的五个轴承对应的位置镀上铬层,铬层厚度满足导电即可;在铬层上引出导线,两个导线之间连接万用表;将导电的滑架放置在主光栅上,利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通,导通则说明导线之间对应的滑架的轴承与主光栅接触良好,不导通则说明对应的滑架的轴承与主光栅之间出现离位。本发明的检测方法操作简单,可靠性高,易于实现,成本低。 | ||
申请公布号 | CN104215174B | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
申请号 | CN201410427325.8 | 申请日期 | 2014.08.26 |
申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明人 | 张雪鹏;孙强;吴宏圣 |
分类号 | G01B7/14(2006.01)I | 主分类号 | G01B7/14(2006.01)I |
代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人 | 王丹阳 |
主权项 | 一种检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、主光栅(1)与滑架(2)定位后,在主光栅(1)上与滑架(2)的五个轴承对应的位置镀上铬层,铬层厚度满足导电即可;步骤二、在铬层上引出导线,两个导线之间连接万用表;步骤三、将导电的滑架(2)放置在主光栅(1)上,利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通,导通则说明导线之间对应的滑架(2)的轴承与主光栅(1)接触良好,不导通则说明对应的滑架(2)的轴承与主光栅(1)之间出现离位;所述铬层包括:与滑架(2)的第一上轴承(201)对应的第一铬层(101)、与滑架(2)的第二上轴承(202)对应的第二铬层(102)、与滑架(2)的第三上轴承(203)对应的第三铬层(103)、与滑架(2)的第一侧轴承(204)对应的第四铬层(104)、与滑架(2)的第二侧轴承(205)对应的第五铬层(105)。 | ||
地址 | 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号 |