一种V型线性阻抗稳定网络耦合和去耦特性确定方法

摘要

本发明公开了一种V型线性阻抗稳定网络耦合和去耦特性确定方法，属于电磁兼容传导发射测试技术领域。按照本发明方法可以通过计算分析V型线性阻抗稳定网络的耦合和去耦特性，对于已知元件参数的LISN，可以在趋势上预测判断该LISN的耦合和去耦特性是否满足工作需要，本发明方法对于第三方计量校验单位不进行计量的V型LISN的耦合和去耦特性具有预测和判断作用，对于设计和研制生产特性更符合需求的新型LISN具有指导意义。

主权项

一种V型线性阻抗稳定网络耦合和去耦特性确定方法，其特征在于实现为：在LISN电路中，对于二阶LC低通滤波器，其截止频率计算公式为：$f_1=\frac{1}{2\pi \sqrt{{\mathrm{LC}}_1}}$对于隔直电容C₁和R₁构成的一阶高通滤波电路，其截止频率计算公式为：$f_2=\frac{1}{2{\mathrm{\pi R}}_2{C}_2}$V型LISN耦合系数计算公式为：$k_1=\frac{{f_1}^2-{f_2}^2}{{f_1}^2+{f_2}^2}$V型LISN去耦特性系数计算公式为：$k_2=\frac{{f_2}^2-{f_1}^2}{{f_2}^2+{f_1}^2}$其中，R₁,R₂,R₃和L，C₁，C₂分别为V型LISN电路中的电阻，电感和电容，f₁为V型LISN电路中信号输入端部分电路构成的二阶低通滤波器的截止频率，f₂为V型LISN电路中信号输出段构成的一阶高通滤波器的截止频率，k₁为V型LISN耦合特性系数，k₂为V型LISN去耦特性系数；步骤二：将实际需要分析的V型LISN电路元器件参数，元器件参数包括电路中的电阻，电感，电容代入步骤一中给出的公式中，计算出V型LISN在其工作频率上的耦合和去耦特性系数取值。