发明名称 检测装置及方法
摘要 本发明公开一种检测装置及方法,所述检测装置包含︰一光源、一滤光片、至少一网罩、一分光镜以及一影像撷取单元。所述光源提供一光线;所述滤光片设置在所述光源前方,以对所述光线进行滤光;所述至少一网罩设置在所述滤光片前方,并具有数个规则排列的网孔,所述滤光后的光线通过所述网孔成为一网状光;所述分光镜倾斜设置于所述网罩前方,以将所述网状光反射投射至一待测表面;所述影像撷取单元设置于所述分光镜上方,以撷取由所述待测表面反射且穿过所述分光镜的一反射影像,以供判断所述待测表面上是否具有一缺陷。
申请公布号 CN106206353A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201610720734.6 申请日期 2013.03.01
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 陈轩旋;杨仲琦;郑端佑
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 林斯凯
主权项 一种检测装置,其特征在于:所述检测装置包含:一光源,提供一光线;一滤光片,对所述光线进行滤光;至少一光网状化元件,滤光后的光线通过所述光网状化元件成为一网状光,所述网状光投射至一待测表面;以及一影像撷取单元,撷取由所述待测表面的一反射影像。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号