发明名称 ETCHING METHOD
摘要 제 1 유전체막 및 실리콘 질화막인 제 2 유전체막이 교호로 적층됨으로써 구성된 다층막을 가지는 제 1 영역과, 단층의 실리콘 산화막을 가지는 제 2 영역을 에칭하는 방법을 제공한다. 일실시 형태의 방법은, 플라즈마 처리 장치의 처리 용기 내에서, 플루오르카본 가스, 및 산소 가스를 포함하는 제 1 처리 가스의 플라즈마를 생성하는 제 1 플라즈마 처리 공정과, 처리 용기 내에서, 수소 가스, 삼불화 질소 가스 및 탄소 함유 가스를 포함하는 제 2 처리 가스의 플라즈마를 생성하는 제 2 플라즈마 처리 공정을 포함한다. 이 방법에서는, 제 1 플라즈마 처리 공정에서는, 정전 척의 온도가 제 1 온도로 설정되고, 제 2 플라즈마 처리 공정에서는, 정전 척의 온도가 제 1 온도보다 낮은 제 2 온도로 설정된다.
申请公布号 KR20160140469(A) 申请公布日期 2016.12.07
申请号 KR20160065032 申请日期 2016.05.26
申请人 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 发明人 사와타이시 마사유키;미와 토모노리;카네코 유키
分类号 H01L21/3065;H01L21/311;H01L21/3213;H01L21/324;H01L21/683;H01L27/115;H05H1/46 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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