发明名称 一种抗锯齿影像之方法
摘要 本发明提出一种修正三点抗锯齿法,先找出与显示线最接近的像点,此像点之明暗度值为一常数显示明暗度值,其步骤为在像点矩阵列上沿着某一轴方向,找出与显示线距离最短的像点,由预定常数值乘以最大明暗度值而计算出此第一像点的明暗度值。由第一像点沿着某一轴方向选取上一像点为第二像点,下一像点为第三像点,并计算出第二、第三像点明暗度值,如此即可输出三像点影像,消除锯齿现象的发生,而得到较好品质的影像。
申请公布号 TW392140 申请公布日期 2000.06.01
申请号 TW087108357 申请日期 1998.05.28
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 李启志;沈文仁;杨雅云;陈忠敬;林万益
分类号 G09G5/00 主分类号 G09G5/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种显示线方法,在计算于一矩阵列中所选择像点明暗度値以表示一显示线,其步骤包括:从该显示线找出于矩阵列上沿一轴有最短距离之一第一像点;由该第一像点之一最大像点明暗度値乘以一预定之常数値计算出该第一像点之明暗度値;从该显示线找出沿着该轴方向第二个像点;从该显示线找出沿着该轴方向第三个像点;由该第二像点计算得到一第二像点之明暗度値;及由该第三像点计算得到一第三像点之明暗度値。2.如申请专利范围第1项所述之显示线方法,其中该常数値为介于0.5到0.75之间。3.如申请专利范围第1项所述之显示线方法,其中该常数値设定为0.625。4.如申请专利范围第1项所述之显示线方法,其中该第二像点之上一像点为该第一像点,该第二像点之明暗度値由V'/2乘上该最大像点明暗度値计算得之,而V'为该第一像点与该显示线在该矩阵列中沿着该轴方向之正规化距离。5.如申请专利范围第4项所述之显示线方法,其中该第一像点之下一像点为该第三像点,该第三像点之明暗度値由(1-V')/2乘上该最大像点明暗度値计算得之。6.如申请专利范围第1项所述之显示线方法,其中该第一像点之下一像点为该第二像点,该第二像点之明暗度値由(1-V')/2乘上该最大像点明暗度値计算得之,而其中V'为该第一像点与该显示线在该矩阵列中沿着该轴方向之正规化距离。7.如申请专利范围第6项所述之显示线方法,其中该第一像点之上一像点为该第三像点,该第三像点之明暗度値由V'/2乘上该最大像点明暗度値计算得之。8.一种抗锯齿影像的方法,用以表示一影像于包括矩阵列像点的装置,其步骤包括:确认影像中所欲表示的一点;从该点找出于该矩阵列上沿一轴有最短距离V之一第一像点;由该第一像点之一最大像点明暗度値乘以一预定之常数値计算出该第一像点之明暗度値;以V'/2乘以第二像点最大明暗度値得到第二像点之明暗度値,V'为一正规化距离,介于该第一像点与一显示线之间,而该V'距离相当于该最短距离V加上0.5;及以(1-V')/2乘上第三像点一最大明暗度値得到一第三像点明暗度値。9.如申请专利范围第8项所述之抗锯齿影像的方法,其中该第一像点最大明暗度値、该第二像点最大明暗度値与该第三像点之该最大明暗度値是相同的値。10.如申请专利范围第8项所述之抗锯齿影像的方法,其中该常数値为介于0.5到0.75之间的値。11.如申请专利范围第8项所述之抗锯齿影像的方法,其中该常数値设定为0.625。12.一种显示线方法,在计算于一矩阵列中所选择像点明暗度値以表示一显示线,其步骤包括:从该显示线找出于矩阵列上沿一轴有最短距离之一第一像点;由该第一像点之一最大像点明暗度値乘以一预定之常数値计算出该第一像点之明暗度値;由位于该第一像点上方之该第二像点,计算得到一第二像点之明暗度値;及由位于该第一像点下方之该第三像点,计算得到一第三像点明暗度値。13.如申请专利范围第12项所述之显示线方法,其中该常数値为介于0.5到0.75之间的値。14.如申请专利范围第12项所述之显示线方法,其中该常数値0.625。15.如申请专利范围第12项所述之显示线方法,其中该第二像点明暗度値为V'/2乘以该最大像点明暗度値,而V'为该第一像点与该显示线在该矩阵列中沿着该轴方向之正规化距离。16.如申请专利范围第15项所述之显示线方法,其中该第三像点明暗度値为(1-V')/2乘以该最大像点明暗度値。图式简单说明:第一图为传统之圆锥过滤函数,其半径为一单位。第二图为传统之二点抗锯齿法选择的像点及线的关系图。第三图为三点抗锯齿法选择的像点及线的关系图。第四图表示在三点抗锯齿法中像点明暗度値与最接近显示线的距离之关系图。第五图为在显示矩阵列上显示线与三点抗锯齿法之显像点图示。第六图为本发明之每一处理步骤之流程图。
地址 新竹县竹东镇中兴路四段一九五号