发明名称 半导体存储器件及其操作方法
摘要 本发明涉及一种半导体存储器件及其操作方法。半导体存储器件,包括:第一层级和第二层级,第一层级和第二层级中的每一个包括多个存储块;第一读写电路和第二读写电路,适用于感测和临时储存被分别编程至第一层级和第二层级的数据;以及控制逻辑,适用于控制第一读写电路和第二读写电路以分别对第一层级和第二层级执行读取操作,其中所述控制逻辑根据第一层级和第二层级处于LSB编程状态还是MSB编程状态,来控制第一读写电路和第二读写电路以将临时储存的数据设置为设置数据、来执行新的读取操作以储存新数据、或者来保持临时储存的数据。
申请公布号 CN106205712A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201510334501.8 申请日期 2015.06.16
申请人 爱思开海力士有限公司 发明人 周炳仁;金昞宁
分类号 G11C16/26(2006.01)I;G11C16/34(2006.01)I;G11C16/10(2006.01)I 主分类号 G11C16/26(2006.01)I
代理机构 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人 俞波;毋二省
主权项 一种半导体存储器件,包括:第一层级和第二层级,第一层级和第二层级中的每一个包括多个存储块;第一读写电路和第二读写电路,适用于感测和临时储存被分别编程至所述第一层级和所述第二层级的数据;以及控制逻辑,适用于控制所述第一读写电路和所述第二读写电路以分别对所述第一层级和所述第二层级执行读取操作,其中所述控制逻辑根据所述第一层级和第二层级处于LSB编程状态还是MSB编程状态来控制所述第一读写电路和所述第二读写电路以将临时储存的数据设置为设置数据、来执行新的读取操作以储存新数据、或者来保持所述临时储存的数据。
地址 韩国京畿道