一种扭振测试误差校正方法

摘要

本申请公开了一种扭振测试误差校正方法，适用于校正由于码盘偏心产生的扭振测试误差，扭振测试误差校正方法包括：在位于码盘表面的预设线段上安装预设数量的传感器，所述预设线段为旋转轴的一条半径延长线；以距所述旋转轴中心距离由小到大的顺序对所述预设数量的传感器进行编号，记录除编号为1的传感器以外的各个所述传感器的位置参数；在所述旋转轴转速稳定时，采集每个所述传感器的转速脉冲信号；对采集的所述转速脉冲信号进行阶次分析，获得每个所述传感器采集的各阶扭振参数；将每个所述传感器采集的各阶扭振参数以及所述位置参数代入预设公式，即可获得校正后的各阶扭振值，从而达到对由于码盘偏心而产生的扭振测试误差进行校正的目的。

主权项

一种扭振测试误差校正方法，其特征在于，适用于校正由于码盘偏心产生的扭振测试误差，所述扭振测试误差校正方法包括：在位于码盘表面的预设线段上安装预设数量的传感器，所述预设线段为旋转轴的一条半径延长线；以距所述旋转轴中心距离由小到大的顺序对所述预设数量的传感器进行编号，记录除编号为1的传感器以外的各个所述传感器的位置参数；在所述旋转轴转速稳定时，采集每个所述传感器的转速脉冲信号；对采集的所述转速脉冲信号进行阶次分析，获得每个所述传感器采集的各阶扭振参数；将每个所述传感器采集的各阶扭振参数以及所述位置参数代入预设公式，获得校正后的各阶扭振值；所述预设数量为3或4，当所述预设数量为3时，所述预设公式为：其中，B_i0为所述校正后的第i阶扭振值，a为编号为2的传感器的位置参数；b为编号为3的传感器的位置参数；和为各个所述传感器采集的第i阶扭振参数；当所述预设数量为4时，所述预设公式为：其中，a为编号为2的传感器的位置参数；b为编号为3的传感器的位置参数；c为编号为4的传感器的位置参数；和为各个所述传感器采集的第i阶扭振参数。