| 发明名称 | 一种利用纤芯失配干涉结构测量温度的方法 | ||
| 摘要 | 一种利用纤芯失配干涉结构测量温度的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建纤芯错位熔接干涉结构，所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源，波分复用器，增益光纤，第一单模光纤，第二单模光纤，第三单模光纤和光谱分析仪；b)对第一单模光纤，第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接；c)测量待测温控装置的外界温度：将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体，根据不同温度时波谷处的波长值的变化，记录梳状谱移动的长度，得到梳状谱随温度的变化曲线，选取测量点波长，此时光谱波长曲线发生漂移，根据漂移量通过以下公式可以推断出外界温度：Y＝aX‑b，其中X为温度，Y为变化波长，a，b为常数。 | ||
| 申请公布号 | CN106197742A | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
| 申请号 | CN201610741972.5 | 申请日期 | 2016.08.26 |
| 申请人 | 北京信息科技大学 | 发明人 | 祝连庆;何巍;董明利;娄小平;刘锋;闫光;李红 |
| 分类号 | G01K11/32(2006.01)I | 主分类号 | G01K11/32(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人 | 顾珊;庞立岩 |
| 主权项 | 一种利用纤芯失配干涉结构测量温度的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建纤芯错位熔接干涉结构，所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源，波分复用器，增益光纤，第一单模光纤，第二单模光纤，第三单模光纤和光谱分析仪；b)对第一单模光纤，第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接；c)测量待测温控装置的外界温度：将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体，根据不同温度时波谷处的波长值的变化，记录梳状谱移动的长度，得到梳状谱随温度的变化曲线，选取测量点波长，此时光谱波长曲线发生漂移，根据漂移量通过以下公式可以推断出外界温度：Y＝aX‑b，其中X为温度，Y为变化波长，a，b为常数。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院 | ||