发明名称 |
3D相位膜对位装置和方法 |
摘要 |
本发明提供一种3D相位膜对位装置和方法,属于3D相位膜对位技术领域,其可至少部分解决现有的3D相位膜对位方式精度差、工艺复杂的问题。本发明的3D相位膜对位方法包括:将图像采集单元对准检测位置,所述检测位置为显示面板中相邻视区的交界处,所述图像采集单元前设有检偏器,所述检偏器允许由3D相位膜的一种相位区透过的光通过,而不允许由另一种相位区透过的光通过;调整3D相位膜的位置以对其进行粗对位;在显示面板进行显示的情况下,用图像采集单元采集检测位置的图像,根据所述图像调整3D相位膜的位置,使所述图像中亮区和暗区的交界与所述相邻视区的交界重合。 |
申请公布号 |
CN106199989A |
申请公布日期 |
2016.12.07 |
申请号 |
CN201610849811.8 |
申请日期 |
2016.09.26 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
周春苗 |
分类号 |
G02B27/22(2006.01)I;G02B27/26(2006.01)I |
主分类号 |
G02B27/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
柴亮;张天舒 |
主权项 |
一种3D相位膜对位方法,其特征在于,包括:将图像采集单元对准检测位置,所述检测位置为显示面板中相邻视区的交界处,所述图像采集单元前设有检偏器,所述检偏器允许由3D相位膜的一种相位区透过的光通过,而不允许由另一种相位区透过的光通过;调整3D相位膜的位置以对其进行粗对位;在显示面板进行显示的情况下,用图像采集单元采集检测位置的图像,根据所述图像调整3D相位膜的位置,使所述图像中亮区和暗区的交界与所述相邻视区的交界重合。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |